Inhalt
Kurzkommentar |
Die Prüfungstermine werden individuell mit den Studierenden abgestimmt.
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Kommentar |
Begriffe und Darstellungsweisen, Störquellen, Mechanismen der galvanischen, kapazitiven, induktiven und elektromagnetischen Kopplung, Entstörkomponenten, Schirmungen, Typische EMV-Probleme in der Praxis, Grundlagen rechnergestützter EMV-Untersuchungen
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Zielgruppe |
BIT 38, BEE 17, BEE 19, BEE 22 (Wahlpflichtmodule) |